Süperiletken kübitte hızlı işlemlerin istenmeyen düzeylere kaçağı azaltıldı
Hakemli bir deneyde, tek bir süperiletken kübitin kontrol darbeleri değiştirilerek istenmeyen enerji düzeylerine geçiş azaltıldı. Araştırmacılar 6,8 nanosaniyelik darbelerle yüzde 99,98'in üzerinde doğruluk bildirdi. Yöntem, daha basit düzeltmelerin gözden kaçırdığı geçişleri hedefliyor. Deney yalıtılmış bir aygıtta yapıldı; çok sayıda kübitin bağlı olduğu işlemcilerdeki başarısının ayrıca gösterilmesi gerekiyor.
Bilim··Gece
Kısa darbelerde yüksek doğruluk korundu
Hakemli tek bir deneyde, kuantum biti olarak kullanılan süperiletken devre türü transmon tek başına kontrol edildi. Kübitin durumunu değiştiren X ve yarım X dönüşümleri, 6,8 nanosaniyelik darbelerle yüzde 99,98'in üzerinde doğruluğa ulaştı. Araştırma, hesaplama için kullanılan iki enerji düzeyinin dışına geçişleri azaltmayı hedefliyor. Darbe çevresinde ek bekleme payı da bulunduğundan, verilen süre işlemcinin bütün çevriminin süresinden farklı. Ölçümler, bu tek aygıttaki kontrol işlemlerine ait.[1]
Darbe biçimi başka düzeylere geçişi bastırıyor
Transmonun erişilebilir enerji düzeyleri ikiden fazla. Güçlü darbeler, çok fotonlu süreçlerle komşu olmayan düzeyler arasında da geçiş oluşturabiliyor. Yeni düzeltme, daha önce hedeflenen istenmeyen geçişlerin yanında bu yolları da bastıracak biçimde darbeyi değiştiriyor. Ekip, rastgele işlem dizileriyle yapılan sınamaları, yinelenen işlemler boyunca tutarlı kaçağı büyüten ayrı bir ölçümle birlikte kullandı. Bu düzen, çok küçük kaçakların ölçülmesini kolaylaştırdı; farklı sınamalar toplam hata ile kaçak bileşenini ayrı ayrı değerlendirdi.[1]
Darbe daha da kısalınca kaçak yeniden arttı
Darbeler daha da kısaltıldığında üst enerji düzeylerine geçiş artışı görüldü; ayarları kararlı tutmak da zorlaştı. En iyi çalışma bölgesinde kalan hatanın önemli bölümünü kuantum tutarlılığının kaybı oluşturdu. Kaçağı büyüten ölçüm, ısıl süreçlerden kaynaklanan geçişlere de diğer yöntemlerle aynı duyarlılığı göstermiyor. Bulgular tek ve yalıtılmış bir kübite ait. Bağlı aygıtlar, eşzamanlı işlemler ve işlemci içindeki girişimler, yöntemin ayrıca sınanması gereken deney koşulları arasında bulunuyor.[1]
