Aygıtın içine bakan yöntem

Yöntemi doktora öğrencisi Elliot Kisiel geliştirdi: elektron mikroskobunun görüntüleme gücüyle X-ışını kırınımının yapı duyarlılığını birleştiren karanlık alan X-ışını mikroskobu. Ölçülen aygıt, yaklaşık 100 nanometre kalınlığındaki bir vanadyum dioksit ince film ve onu taşıyan, yaklaşık 10.000 kat daha kalın bir altlık. Gerilim uygulandığında ekip ikisini aynı anda izleyebildi; alışılmış düzeneklerde yalnızca filme bakılır.[1]

Görülen şey karşılıklı bir mekanik eşleşme: film altlığı itip çekiyor, altlık da filme aynısını yapıyor ve ikisi enerji paylaşıyor. Bir sonucun ağırlığını taşıyan kısım burada tekrarlanabilirlik: ekip aynı ve değiştirilmiş örneklerle dört yıl boyunca, Argonne Ulusal Laboratuvarı'nın sinkrotronunda ve Brookhaven'ın ultrahızlı elektron mikroskobunda sonucu yeniden üretti. Farklı iki cihazda aynı davranışın çıkması, gözlenenin ölçüm düzeneğinin bir yan ürünü olmadığını söyleyen en sağlam kanıt.[1]

Modelde adı konmamış bileşen

Altlık mekanik enerjiyi depolayıp geri veriyorsa, anahtarlama davranışını tümüyle filme yazan ölçümler paylaşılan bir büyüklüğü tek parçaya yüklemiş oluyor. Doçent Alex Frañó'nun altlıkların edilgen sayılması varsayımının yeniden düşünülmesi gerektiği yönündeki uyarısı tam olarak bunu söylüyor. Ne var ki eşleşme gerçek olup çalışma koşullarında küçük de kalabilir; açıklama altlığın ne kadar enerji aldığına dair bir sayı vermiyor ve o sayı olmadan mevcut modellerin yetersiz kaldığı sonucu çıkarılamaz.[1]

Kurulmamış olan kısım da açık. Ekibin hedefi, altlığın iki yüzüne işlevsel katmanlar kurup üç boyutlu, daha yoğun bağlantılı nöromorfik yongalara ulaşmak. Bu hedefle bugün elde olan arasında somut bir basamak var: altlığın yalnızca tepki verdiğini göstermek başka şey, altlığın iki aygıt katmanı arasında bir sinyali taşıdığını göstermek başka şey. İkincisi için, aynı koşullarda ölçülmüş bir temel düzenekle karşılaştırılan gecikme ve enerji sayıları taşıyan çalışan bir aygıt gerekiyor; o sayılar yayımlandığında bu bulgunun mühendislik değeri de ölçülebilir hale gelir.[1]